Rev. Phys. Appl. (Paris) 22, 803-819 (1987)
DOI: 10.1051/rphysap:01987002208080300
Origine du bruit dans les dispositifs à semiconducteurs
J.P. NougierCentre d'Electronique de Montpellier , Université des Sciences et Techniques du Languedoc, 34060 Montpellier Cedex, France
Abstract
The main definitions and quantities of physical interest, related to noise measurements, are first given. The noise sources involved in semiconductors are given. The interest of noise measurements in semiconducting materials are pointed out, as a way for getting informations on both technological aspects and transport parameters. The modern ways for modelling the noise of devices are then given, and the specific problems arising in submicron devices are indicated.
Résumé
Après avoir donné les principales définitions et grandeurs physiques liées au bruit, on indique les principales sources de bruit dans les semiconducteurs. On montre ensuite l'intérêt des mesures de bruit dans les matériaux, en tant que moyen de caractérisation technologique et physique. On indique ensuite quelles sont les méthodes modernes de modélisation du bruit des composants, et on termine en mettant l'accent sur les problèmes spécifiques rencontrés dans les composants submicroniques.
7270 - Noise processes and phenomena in electronic transport.
2560B - Semiconductor device modelling and equivalent circuits.
Key words
electron device noise -- semiconductor device models -- semiconductor devices -- noise sources -- semiconductors -- noise measurements -- modelling -- submicron devices