Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 11, Numéro 1, janvier 1976
Page(s) 83 - 87
DOI http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:0197600110108300
Rev. Phys. Appl. (Paris) 11, 83-87 (1976)
DOI: 10.1051/rphysap:0197600110108300

X-ray interferometry and lattice parameter investigation

U. Bonse, W. Graeff et G. Materlik

Institut für Physik, University of Dortmund, D-4600 Dortmund 50, Postfach 50 0500, Germany


Abstract
The essentials of X-ray interferometry and its principal application fields are reviewed. Very small lattice disturbances which are present even in highest quality crystals of silicon have been investigated by ordinary and moire topography. Strains corresponding to Δd/d variations of 10 -7 are found in large perfect crystals.


Résumé
L'essentiel de l'interférométrie des rayons X et ses applications principales sont revus. Des variations très petites de la constante réticulaire, qui se trouvent même dans des cristaux de la meilleure qualité, ont été étudiées à l'aide de topographie ordinaire et celle à franges moirées. Des déformations correspondantes aux variations de Δd/d ~ 10-7 s'observent dans des grands cristaux parfaits.

PACS
6110N - X-ray diffraction.

Key words
Interferometry -- XRD -- Moire fringes -- Fluctuations -- Lattice parameters -- Perfect crystals -- Investigation method