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Issue Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 12, Number 4, avril 1977
Page(s) 611 - 614
DOI http://dx.doi.org/10.1051/rphysap:01977001204061100

Rev. Phys. Appl. (Paris) 12, 611-614 (1977)
DOI: 10.1051/rphysap:01977001204061100

Deux procédés utilisables pour obtenir une correction de dilatation avec des cavités résonnantes en hyperfréquence

A. Poinsot, S. Sliwa et G. Vosgien

Laboratoire de Radioélectricité, Université de Dijon, France


Abstract
Microwave resonant cavities used for the characterization of dielectric materials have a non negligible intrinsic drift of their resonant frequency in experiments where the temperature is a variable parameter. We give results obtained with two methods of correction. The first method consists in stabilizing the resonant frequency itself by using the differential expansion of two different metals. The second method relies on stabilizing the beat frequency between the eigenfrequencies of two identical cavities at the same temperature. In both cases we obtain a residual drift near 1 kHz/°C for temperatures between - 50 °C and + 100 °C.


Résumé
Les cavités résonnantes utilisées en hyperfréquence pour des caractérisations de matériaux diélectriques présentent, lors d'études en fonction de la température, une dérive non négligeable de leur fréquence de résonance. Nous présentons les résultats obtenus avec deux procédés de correction. Le premier consiste à stabiliser la fréquence de résonance elle-même par le jeu des dilatations différentielles de deux métaux différents. Le second, plus général, utilise la stabilisation du battement entre les fréquences propres de deux cavités identiques placées dans les mêmes conditions de température. Dans les deux cas on obtient une dérive résiduelle de l'ordre de 1 kHz/°C pour des températures variant de - 50 °C à + 100 °C.

PACS
0750 - Electrical instruments and techniques.
1320 - Waveguide and stripline components.

Key words
cavity resonators -- microwave devices -- thermal expansion -- thermal expansion correction -- microwave resonant cavities -- characterization of dielectric materials -- intrinsic drift -- resonant frequency -- variable temperature -- correction methods -- frequency stabilization -- differential expansion of metals -- beat frequency stabilization -- residual drift


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