Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 3, Numéro 4, décembre 1968
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Page(s) | 331 - 336 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:0196800304033100 |
DOI: 10.1051/rphysap:0196800304033100
Étude des métaux avec le microscope ionique de champ
M. DrechslerLaboratoire des Mécanismes de la Croissance Cristalline, associé au C.N.R.S., Université d'Aix-Marseille, Faculté des Sciences Saint-Jérôme, Marseille, 13e
Abstract
The methods of investigating metals with the field ion microscope of E. W. Müller are described. Dislocations are observed. Foreign atoms and vacancies are found individually. Different types of boundaries between crystals are seen as lines at the surface. The equilibrium shape of crystals is observed. Energies of surface diffusion are measured. Atoms or molecules at the surface are analysed, if the field emitter is combined with a mass spectrometer. Positive and negative aspects of these methods are indicated.
Résumé
Les méthodes d'étude des métaux avec le microscope ionique de champ de E. W. Müller sont décrites. On observe des dislocations. On trouve individuellement des atomes étrangers et des lacunes. On peut voir toutes les faces limites entre cristaux sous forme de lignes à la surface. On observe la forme d'équilibre du cristal et on mesure les énergies de diffusion de surface. On peut analyser les atomes ou molécules à la surface, si on combine la pointe d'émission avec un spectromètre de masse. Les aspects positifs et négatifs de ces méthodes d'étude sont indiqués.
6172D - Experimental determination of defects by diffraction and scattering.
6837V - Field emission and field-ion microscopy.
Key words
Field emission ion microscopy -- Crystal defects -- Dislocations -- Impurities -- Crystal form -- Surface diffusion -- Surface structure -- Metals -- Tungsten -- Experimental study