Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 2, juin 1969
Page(s) 284 - 285
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0196900402028401
Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 284-285 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:0196900402028401

Détecteurs de rayonnements nucléaires à semiconducteurs à amplification interne

F. Roubert, P. Siffert et A. Coche

Centre de Recherches Nucléaires, Strasbourg-Cronenbourg


Abstract
By geometrical control of the surface field, internal amplification P-N junctions have been constructed. Their characteristics are analyzed. Multiplication factors exceeding 1000 have been observed.


Résumé
On décrit les caractéristiques de jonctions P-N à amplification interne obtenues par diffusion de gallium dans du silicium N de résistivité 40 à 50 Ω.cm. Des coefficients d'amplification dépassant 1000 ont pu être obtenus à l'aide de ces dispositifs.

PACS
2940P - Semiconductor detectors.
7420 - Particle and radiation detection and measurement.

Key words
particle detectors -- semiconductor counters