Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 13, Numéro 8, août 1978
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Page(s) | 387 - 392 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01978001308038700 |
DOI: 10.1051/rphysap:01978001308038700
Comparaison entre courbes de dispersion des ondes de plasma de surface et du minimum du pouvoir réflecteur pour des couches minces d'argent déposées sur un diélectrique sans pertes
J.-C. DudekLaboratoire de Physique du Vide, CNAM , 292, rue Saint-Martin, 75141 Paris Cedex 03, France
Abstract
The calculated dispersion curves of electromagnetic surface waves propagating in a thin metal film are not exactly identical to the curves obtained by computing the minima of the reflection coefficient R(α), the film being illuminated by a plane polarized wave through the prism, using the ATR method. Another difference is observed, at least for ω > ω s, between calculated and experimental R(α) curves.
Résumé
On montre que les courbes de dispersion relatives aux ondes de surface pouvant se propager dans une couche mince métallique réelle ne sont pas rigoureusement confondues avec les courbes obtenues en relevant les minima du pouvoir réflecteur dans la méthode ATR. Il existe également un écart relativement important entre courbes théoriques et courbes expérimentales, pour des fréquences supérieures à la fréquence limite des plasmons de surface.
7145G - Exchange, correlation, dielectric and magnetic functions, plasmons.
7865E - Optical properties of metals and metallic alloys thin films/low dimensional structures.
Key words
light reflection -- metallic thin films -- optical dispersion -- silver -- solid state plasma -- surface plasma waves -- reflection coefficient minima -- calculated dispersion curves -- electromagnetic surface waves -- reflection coefficient -- plane polarized wave -- ATR method -- Ag thin films