Rev. Phys. Appl. (Paris) 14, 847-852 (1979)
DOI: 10.1051/rphysap:019790014010084700

Determination of the index profile in a graded index optical waveguide : a comparaison between perturbation method and W.K.B. analysis and chemical analysis

A. Guez, P.C. Jaussaud et G.H. Chartier

Laboratoire de Génie Physique, Greco C.N.R.S. Micro-Ondes, E.N.S.I.E.G., B.P. n° 46, 38402 St Martin d'Hères, France

Abstract
The use of a non destructive method for determining the index profile of a waveguide is imperative. We compare here 2 different methods that can be used for this purpose, show a very good agreement between the methods, and explain why they are complementary.

Résumé
Disposer d'une méthode non destructive de caractérisation d'un guide d'ondes lumineuses est indispensable. Nous comparons ici deux méthodes différentes qui peuvent être utilisées à cette fin, et expliquons pourquoi elles sont complémentaires. La validité de ces méthodes est testée par comparaison avec une analyse à la micro-sonde électronique à balayage.

PACS
4280L - Optical waveguides and couplers.

Key words
optical waveguides -- perturbation theory -- index profile -- graded index optical waveguide -- perturbation method -- WKB analysis -- chemical analysis