Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 1573-1577 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:0198000150110157300

Identification of imperfections contribution to electronic conductivity in monocrystalline metal film

C.R. Tellier¹, L. Hafid² et A.J. Tosser<sup>1

1</sup>  Laboratoire d'Electronique, Université de Nancy-I, C.O. 140, 54037 Nancy Cedex, France
²  Département de Physique, Université Cadi-Ayad, route de Safi, Marrakech, Marocco

Abstract
A new method based on simultaneous measurements of thermoelectric power and conductivity is proposed for analysing the contribution to electron scattering of imperfections frozen in thin monocrystalline metal films ; previously reported data on copper and silver films are examined. It is shown that the procedure is efficient for identifying the presence of imperfections but could also give information on anomalous size effects due to impurities.

Résumé
Une nouvelle méthode est proposée pour analyser les effets sur la conductivité et le pouvoir thermoélectrique des imperfections fixées dans des couches minces métalliques monocristallines. Des résultats expérimentaux antérieurs relatifs à des couches de cuivre et d'argent sont ainsi interprétés. Cette méthode permet de mettre en évidence la présence d'imperfections, mais elle permet aussi d'analyser des effets dimensionnels anormaux dus aux imperfections.

PACS
7210F - Carrier scattering by point defects, dislocations, surfaces, and other imperfections.
7215E - Electrical and thermal conduction in crystalline metals and alloys.
7215J - Thermoelectric effects metals/alloys.
7360D - Electrical properties of metals and metallic alloys thin films/low dimensional structures.

Key words
electronic conduction in metallic thin films -- impurity scattering -- metallic thin films -- size effect -- thermoelectric effects in metals and alloys -- imperfections -- electronic conductivity -- monocrystalline metal film -- measurements -- thermoelectric power -- electron scattering -- anomalous size effects -- impurities -- Cu film -- Ag film