Rev. Phys. Appl. (Paris) 15, 1607-1612 (1980)
DOI: 10.1051/rphysap:0198000150110160700

Dispositif de mesures du pouvoir thermoélectrique sur des échantillons très résistants entre 4 et 300 K

P. Dordor, E. Marquestaut et G. Villeneuve

Laboratoire de Chimie du Solide du CNRS, Université de Bordeaux I. 351, cours de la Libération, 33405 Talence Cedex, France

Abstract
A new method is described for dynamically measuring the thermoelectric power of small samples in the temperature range 4-300 K. Measurements may be performed on samples with resistivities as high as 1010 Ω cm. The device has been checked on a crystal of stoichiometric magnetite. Although designed for highly resistive materials, it may be used for Seebeck measurements on metallic samples with α < 10 μV/°C.

Résumé
L'appareil décrit dans le texte est conçu pour mesurer le pouvoir thermoélectrique de monocristaux de forte résistivité (≈ 1010 Ω cm) entre 4 et 300 K. Il permet d'effectuer des mesures sur des échantillons de faibles dimensions (< 0,5 mm). Le dispositif a été testé sur un monocristal de magnétite de composition stoechiométrique. Bien que non construit pour, il est capable de mesurer le coefficient de Seebeck d'échantillons métalliques pour lesquels α < 10 μV/°C.

PACS
0720M - Cryogenics.
0750 - Electrical instruments and techniques.
7215J - Thermoelectric effects metals/alloys.
7220P - Thermoelectric effects semiconductors/insulators.

Key words
low temperature techniques -- power measurement -- Seebeck effect -- thermoelectricity -- thermoelectric power -- stoichiometric magnetite -- Seebeck measurements -- metallic samples -- high resistance -- 4 to 300K -- dynamic measurement