Numéro |
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 17, Numéro 4, avril 1982
|
|
---|---|---|
Page(s) | 239 - 249 | |
DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001704023900 |
DOI: 10.1051/rphysap:01982001704023900
Techniques de mesure des caractéristiques radiatives des matériaux opaques
Ph. Demont1, M. Huetz-Aubert1 et J.F. Sacadura21 Groupe de Recherches Thermiques du C.N.R.S. associé à l'Ecole Centrale des Arts et Manufactures, Grande Voie des Vignes, 92230 Châtenay Malabry, France
2 Laboratoire d'Hydraulique et Dynamique des Gaz, Institut National des Sciences Appliquées de Lyon, Bât. 302, 20, avenue Einstein, 69621 Villeurbanne Cedex, France
Abstract
This paper reviews the experimental techniques used in measuring the thermal radiation properties of opaque materials. After a survey of the different radiation parameters and the relations allowing reciprocal determination of some of them, a critical description of the main measurement techniques is made. The review extends from examining the methods of measuring spectral bidirectional reflectance, from which all other radiation parameters can be theoretically derived, to methods used for total hemispherical parameters. An emphasis is made on experimental error problems, specially those involved with polarization phenomena. Some means of avoiding these errors are suggested.
Résumé
Cet article est consacré à une revue synthétique des méthodes de mesure des propriétés radiatives des matériaux opaques. Après un rappel des différents paramètres radiatifs que l'on peut avoir à connaître et des relations permettant la détermination indirecte de certains d'entre eux, on donne une description critique et comparative de leurs principales techniques d'obtention. La démarche adoptée commence par l'examen des méthodes de mesure du paramètre radiatif le plus fin et peut-être le plus délicat à mesurer - la réflectivité bidirectionnelle monochromatique - et s'achève sur les paramètres les plus grossiers, à savoir les facteurs totaux hémisphériques, en passant par les différents facteurs intégrés sur l'espace ou la longueur d'onde. Un accent particulier est mis sur certaines causes d'erreur communes à la plupart des montages décrits, en particulier celles dues aux phénomènes de polarisation. Un moyen de s'en affranchir est indiqué.
0720K - High temperature techniques and instrumentation: pyrometry.
4450 - Thermal properties of matter phenomenology.
Key words
heat radiation -- pyrometers -- thermal variables measurement -- pyrometry -- opaque materials -- thermal radiation properties -- spectral bidirectional reflectance