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Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 18, Numéro 9, septembre 1983
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| Page(s) | 561 - 564 | |
| DOI | https://doi.org/10.1051/rphysap:01983001809056100 | |
Rev. Phys. Appl. (Paris) 18, 561-564 (1983)
DOI: 10.1051/rphysap:01983001809056100
Groupe d'Electronique et de Physique des Matériaux, Université de Rennes I, Avenue du Général Leclerc, 35042 Rennes Cedex, France
7155 - Impurity and defect levels.
Key words
defect characteristic -- deep level transient spectroscopy -- double correlation DLTS method
DOI: 10.1051/rphysap:01983001809056100
Valeur du signal de la méthode D.L.T.S. à double corrélation
A. Le BloaGroupe d'Electronique et de Physique des Matériaux, Université de Rennes I, Avenue du Général Leclerc, 35042 Rennes Cedex, France
Abstract
The real signal of double correlation D.L.T.S. method is calculated; it is shown that it is necessary to use this signal to determine the characteristics of the defects.
Résumé
La valeur réelle du signal de la méthode D.L.T.S. à double corrélation est calculée ; on montre qu'il faut utiliser cette valeur du signal pour la détermination des caractéristiques des défauts.
7155 - Impurity and defect levels.
Key words
defect characteristic -- deep level transient spectroscopy -- double correlation DLTS method