Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 1, mars 1969
Page(s) 37 - 41
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019690040103700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 37-41 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:019690040103700

Méthode de mesure de permittivités jusqu'à 1 200 °C par réflecto-polarimétrie à 35 GHz. Application à l'étude des réfractaires

A. Charru1, A. Bretenoux1, A. Sarremejean1 et G. Urbain2

1  Laboratoire d'Optique Ultra-Hertzienne, Faculté des Sciences de Bordeaux
2  I.R.S.I.D., Saint-Germain-en-Laye


Abstract
We describe a radiofrequency device which allows one to measure dielectric constants at 35 GHz by the method of the main incidence. The sample remains outside the wave guide. It its in a resistance furnace and may be raised to a temperature of 1 200°C. Measurements of dielectric constant are given for some refractory materials.


Résumé
On décrit un dispositif hertzien permettant de mesurer des permittivités à 35 GHz par la méthode de l'incidence principale. L'échantillon reste hors du guide d'onde; il est dans un four et peut être porté à 1 200°C. On donne les résultats de mesure de permittivités de quelques matériaux réfractaires.

PACS
2810 - Dielectric materials and properties.
7310K - Dielectric variables measurement.
7310N - Microwave measurement techniques.

Key words
dielectric measurement -- dielectric properties of substances -- high temperature techniques -- materials -- microwave devices -- microwave measurement -- permittivity -- polarimeters