Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 4, Numéro 1, mars 1969
Page(s) 45 - 49
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019690040104500
Rev. Phys. Appl. (Paris) 4, 45-49 (1969)
DOI: 10.1051/rphysap:019690040104500

Pouvoir réflecteur d'une lame diélectrique en propagation guidée application à la mesure des permittivités complexes

J.L. Miane

Laboratoire de Physique Expérimentale, Faculté des Sciences de Bordeaux


Abstract
In the technique describe in this paper, measurement of complex permittivity is accomplished by measuring the power reflection factor of a solid dielectric (or semiconductor) sheet in a waveguide terminated by a micrometer plunger. The power reflection factor R is oscillating in Δ (Δ is the distance between the sheet and the movable short-circuit) and its extrema RM and R m are functions only of the complex permittivity of the dielectric. Measurements of RM and Rm provide a means of finding ε' and ε" at ultra high frequencies.


Résumé
La détermination de la permittivité complexe est obtenue à partir de la mesure du pouvoir réflecteur d'une lame diélectrique (ou semiconductrice) placée en avant d'un court-circuit mobile. Le pouvoir réflecteur R est une fonction périodique de la distance Δ séparant le diélectrique du court-circuit et ses extremums RM et Rm ne dépendent que de la permittivité du diélectrique. La mesure de RM et Rm conduit à la détermination de ε' et ε".

PACS
0757 - Infrared, submillimeter wave, microwave and radiowave instruments and equipment.

Key words
Measuring methods -- Complex permittivity -- Microwave radiation -- Waveguides -- Dielectric materials -- Power reflection factor