Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 6, Numéro 4, décembre 1971
Page(s) 459 - 465
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:0197100604045900
Rev. Phys. Appl. (Paris) 6, 459-465 (1971)
DOI: 10.1051/rphysap:0197100604045900

Microscope électronique 400 kV à lentilles supraconductrices. 2. Caractéristiques électrooptiques et fonctionnement

C. Severin1, 2, D. Genotel1, 2, M. Girard1, 2 et A. Laberrigue1, 2

1  Laboratoire de Physique Théorique du Collège de France, 11, place Marcelin-Berthelot, 75-Paris, 5e, France
2  Laboratoire d'Electricité, Université de Reims, U. E. R. Sciences B. P. N° 347, 51-Reims, France


Abstract
Electron-optical features, working conditions and present performances of a 400 kV superconducting electron microscope are given.


Résumé
Nous donnons les caractéristiques électro-optiques, les conditions de fonctionnement et les performances actuelles d'un microscope électronique supraconducteur 400 kV.

PACS
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
2390 - Electron and ion microscopes.

Key words
electron lenses -- electron microscopes -- magnetic lenses -- 400 KV electron microscope -- superconducting lenses -- operating characteristics -- working conditions -- electron optical features