Castaing microprobe analysis of doped polyacetylene films p. 373

M. Rolland, M. Aldissi, M. Cadene, J.F. Bresse and C. Benoit

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001706037300

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• References

Origine de la biréfringence naturelle observée dans les cristaux de ZnSe cubique p. 377

J. Baillou

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001706037700

• Abstract
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• References

A complete dry etching process for MOS FET's with submicron gate length p. 383

P. Parrens, E. Raffat and P. Jeuch

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001706038300

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• References

Protection des transistors MOS en régime de deuxième claquage p. 389

H. Tranduc and P. Rossel

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001706038900

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• References

Réalisation d'un spectromètre infrarouge pour l'analyse comparative de l'émissivité directionnelle des surfaces p. 393

Ph. Pigeat and D. Paulmier

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001706039300

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• References

Revue de livres p. 399

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01982001706039900

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