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Article cité :

Appareillage permettant la détermination dans l'ultraviolet lointain des constantes optiques de couches évaporées sous ultra-vide

André Daudé, Stéphane Robin

Rev. Phys. Appl. (Paris), 1 2 (1966) 120-122

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0196600102012000

Citations de cet article :

Far-ultraviolet absolute reflectometer for optical constant determination of ultrahigh vacuum prepared thin films

J. A. Aznárez, J. I. Larruquert and J. A. Méndez
Review of Scientific Instruments 67 (2) 497 (1996)
https://doi.org/10.1063/1.1146628

Far-ultraviolet reflectance measurements and optical constants of unoxidized aluminum films

J. I. Larruquert, J. A. Méndez and J. A. Aznárez
Applied Optics 34 (22) 4892 (1995)
https://doi.org/10.1364/AO.34.004892

Appareillage permettant la d termination des propri t s optiques dans l'ultra-violet extr me de couches vapor es et maintenues sous ultra-vide (10-10torr)

A Daude and S Robin
Nouvelle Revue d'Optique Appliquée 2 (1) 57 (1971)
https://doi.org/10.1088/0029-4780/2/1/308

Reflectance of evaporated aluminium films in the 1050–1600 Å region, and the influence of the surface plasmon

B.P. Feuerbacher and W. Steinmann
Optics Communications 1 (2) 81 (1969)
https://doi.org/10.1016/0030-4018(69)90014-5