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Effects of Anodic Polarization Upon Electrochemically Grown Oxide Films on p‐Si, Studied by Ellipsometric and Capacitance Measurements

J. J. Mercier, F. Fransen, F. Cardon, M. J. Madou and W. P. Gomes
Berichte der Bunsengesellschaft für physikalische Chemie 89 (2) 117 (1985)
https://doi.org/10.1002/bbpc.19850890207