Some developments in S.E.M. instrumentation
Rev. Phys. Appl. (Paris), 9 2 (1974) 419-425
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Citations de cet article :
Noise coefficients of backscattered electron detectors for low voltage scanning electron microscopy
J. HEJNAJournal of Microscopy 252 (1) 35 (2013)
https://doi.org/10.1111/jmi.12066
Scanning electron microscope electron detector with a radial type discrete dynode electron multiplier
J. HEJNAJournal of Microscopy 232 (2) 276 (2008)
https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.2008.02099.x
Application of channel electron multipliers in an electron detector for low‐voltage scanning electron microscopy
J. HEJNAJournal of Microscopy 232 (2) 369 (2008)
https://doi.org/10.1111/j.1365-2818.2008.02108.x
Electron diffraction methods in TEM, STEM and SEM
L. ReimerScanning 2 (1) 3 (1979)
https://doi.org/10.1002/sca.4950020101
Critical and triple point temperatures of the first adsorbed layer of nitric oxide on graphite, boron nitride and lamellar halides
M. Matecki, A. Thomy and X. DuvalSurface Science 77 (1) 142 (1978)
https://doi.org/10.1016/0039-6028(78)90167-X
Accurate microcrystallography using electron back-scattering patterns
J. A. Venables and R. Bin-jayaThe Philosophical Magazine: A Journal of Theoretical Experimental and Applied Physics 35 (5) 1317 (1977)
https://doi.org/10.1080/14786437708232955