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Article cité :

Analyse des photocourants dans les structures Al-Al2o 3-Al préparées par bombardement électronique

R. Jerisian, J. Dugas, Y. Mentalecheta, J. Oualid

Rev. Phys. Appl. (Paris), 12 5 (1977) 773-780

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01977001205077300

Citations de cet article :

Piezo-tunnel effect in Al/Al2O3/Al junctions elaborated by atomic layer deposition

R. Rafael, E. Puyoo and C. Malhaire
Journal of Applied Physics 122 (18) (2017)
https://doi.org/10.1063/1.4994163

Caractéristiques Courant-Tension Des Structures Ti/TiO2/Électrolyte Et Ti/TiO2/Métal: Effet Schottky Et Claquage

R. Jérisian, J.C. Marchenoir and J.P. Loup
Thin Solid Films 100 (2) 121 (1983)
https://doi.org/10.1016/0040-6090(83)90467-4

Characterisation of electron traps in Cu2S-CdS polycrystalline cells by capacitance transient measurements

J Oualid, D Sarti, J Gervais and S Martinuzzi
Journal of Physics C: Solid State Physics 12 (12) 2313 (1979)
https://doi.org/10.1088/0022-3719/12/12/017