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Article cité :

Determination of the index profile in a graded index optical waveguide : a comparaison between perturbation method and W.K.B. analysis and chemical analysis

A. Guez, P.C. Jaussaud, G.H. Chartier

Rev. Phys. Appl. (Paris), 14 10 (1979) 847-852

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019790014010084700

Citations de cet article :

General method based on WKB approximation and digital holography to characterize planar waveguides

Mohamed Nawareg and Mamdouh A. Shams El-Din
Journal of the Optical Society of America B 38 (5) 1653 (2021)
https://doi.org/10.1364/JOSAB.417573

A diffusion technique for producing an inside-maximum distribution of refractive index in glass plates

T. Kaneko
Optics Communications 52 (1) 17 (1984)
https://doi.org/10.1016/0030-4018(84)90066-X

Realization of Schmidt plates by ion exchange in glass

J. L. Coutaz, P. C. Jaussaud and G. H. Chartier
Applied Optics 21 (6) 1066 (1982)
https://doi.org/10.1364/AO.21.001066

High index gradient in glass by ion exchange

J. L. Coutaz and P. C. Jaussaud
Applied Optics 21 (6) 1063 (1982)
https://doi.org/10.1364/AO.21.001063

Graded-index surface or buried waveguides by ion exchange in glass

G. Chartier, P. Collier, A. Guez, P. Jaussaud and Y. Won
Applied Optics 19 (7) 1092 (1980)
https://doi.org/10.1364/AO.19.001092