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Article cité :

TCAD and SPICE modeling help solve ESD protection issues in analog CMOS technology

D. Trémouilles, G. Bertrand, M. Bafleur, et al.
Microelectronics Reliability 43 (1) 71 (2003)
https://doi.org/10.1016/S0026-2714(02)00127-0

Analysis and compact modeling of a vertical grounded-base n-p-n bipolar transistor used as ESD protection in a smart power technology

G. Bertrand, C. Delage, M. Bafleur, et al.
IEEE Journal of Solid-State Circuits 36 (9) 1373 (2001)
https://doi.org/10.1109/4.944666