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Article cité :

Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Peter Pichler
Computational Microelectronics, Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon 77 (2004)
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-0597-9_2

Diffusion in Semiconductors

H. Bracht and N. A. Stolwijk
Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter, Diffusion in Semiconductors 33A 12 (1998)
https://doi.org/10.1007/10426818_4

Diffusion in Semiconductors

H. Bracht and N. A. Stolwijk
Landolt-Börnstein - Group III Condensed Matter, Diffusion in Semiconductors 33A 196 (1998)
https://doi.org/10.1007/10426818_7

The diffusivity of silicon self-interstitials

W. Taylor, B. P. R. Marioton, T. Y. Tan and U. Gösele
Radiation Effects and Defects in Solids 111-112 (1-2) 131 (1989)
https://doi.org/10.1080/10420158908212989

A study of silicon interstitial kinetics using silicon membranes: Applications to 2D dopant diffusion

S. T. Ahn, P. B. Griffin, J. D. Shott, J. D. Plummer and W. A. Tiller
Journal of Applied Physics 62 (12) 4745 (1987)
https://doi.org/10.1063/1.339028

Film-edge-induced dislocation generation in silicon substrates. I. Theoretical model

J. Vanhellemont, S. Amelinckx and C. Claeys
Journal of Applied Physics 61 (6) 2170 (1987)
https://doi.org/10.1063/1.337977