Méthode d'intégration électronique pour la mesure d'aimantation de supraconducteurs de faible volume et de faible champ critique A. Nemoz, J.C. Solecki, J.P. Faure et J.R.G. KeystonRev. Phys. Appl. (Paris), 4 1 (1969) 42-44DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019690040104200
