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Étude des défauts ponctuels dans le niobium

R. Pichon, F. Vanoni, P. Bichon, G. de Keating-Hart et P. Moser

Rev. Phys. Appl. (Paris), 5 3 (1970) 427-436

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0197000503042700

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