Étude des aberrations du second ordre du microanalyseur ionique et de quelques autres systèmes destinés au filtrage d'images étendues M. Leleyter et G. SlodzianRev. Phys. Appl. (Paris), 6 1 (1971) 65-89DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019710060106500
