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Étude en microscopie à balayage des dégâts d'irradiation causés dans LiF par bombardement ionique

A. Perez, J. Davenas, P. Thevenard, C.H.S. Dupuy, P. Morin et E. Vicario

Rev. Phys. Appl. (Paris), 11 1 (1976) 127-130

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01976001101012700

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