Traitement de l'absorption et de la dispersion diélectriques dans le domaine des très basses fréquences par une méthode d'échantillonnage G. Noyel, J. Huck et A. BondeauRev. Phys. Appl. (Paris), 14 5 (1979) 653-659DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01979001405065300
