Caractérisation des niveaux pièges dans les jonctions graduelles P+ N Si très dopées Au ou Pt J. Oualid, J. Gervais, R. Jerisian, A. Lauer et S. MartinuzziRev. Phys. Appl. (Paris), 15 1 (1980) 25-31DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:0198000150102500
