Irradiation de l'antimoine dans un microscope électronique à haute tension et observation de boucles de défauts ponctuels B. Legros de Mauduit, G. Alcouffe et F. ReynaudRev. Phys. Appl. (Paris), 15 2 (1980) 307-310DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001502030700
