Caractérisation des défauts produits dans GaAs irradié aux protons par analyse des transitoires thermiques et optiques de capacité G. Guillot, A. Nouailhat, G. Vincent, M. Baldy et A. ChantreRev. Phys. Appl. (Paris), 15 3 (1980) 679-686DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001503067900
