Effets galvanomagnétiques dans les semiconducteurs anisotropes inhomogènes Application à la caractérisation des films de silicium sur saphir S. Cristoloveanu, J.H. Lee et A. ChovetRev. Phys. Appl. (Paris), 15 3 (1980) 725-732DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001503072500
