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Structural study of bismuth films and its consequences on their electrical properties

J. Buxo, M. Saleh, G. Sarrabayrouse, G. Dorville, J. Berty et M. Brieu

Rev. Phys. Appl. (Paris), 15 5 (1980) 961-972

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01980001505096100

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