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Residual impurities in MO-VPE GaAs epitaxial layers

B. El Jani, J.C. Grenet, M. Leroux, M. Guittard, P. Gibart et J. Chevallier

Rev. Phys. Appl. (Paris), 19 1 (1984) 7-15

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019840019010700

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