Déformation cyclique in situ dans le microscope électronique à 200 kV. Présentation du porte-objet de fatigue P. Lewandowski, M. Fagot, P. Chomel et J.P. CottuRev. Phys. Appl. (Paris), 20 3 (1985) 207-213DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002003020700
