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Neutron microscopy

A. Steyerl, W. Drexel, T. Ebisawa, E. Gutsmiedl, K.-A. Steinhauser, R. Gähler, W. Mampe et P. Ageron

Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 2 (1988) 171-180

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01988002302017100

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