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Etude comparative du claquage dans les transistors à effet de champ de puissance MESFET, TEGFET et MISFET

J.C. de Jaeger, F. Temcamani, M. Lefebvre, R. Kozlowski, P. Fellon, J. Pribetich et Y. Crosnier

Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 7 (1988) 1205-1213

DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:019880023070120500

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