Caractérisation électronique d'interfaces profondes Al-InP C. Barret, F. Vergand, H. Maaref, C. Sénémaud et C. BonnelleRev. Phys. Appl. (Paris), 24 4 (1989) 439-446DOI: https://doi.org/10.1051/rphysap:01989002404043900
