Revue de Physique Appliquée

Échantillonneur pour analyse simultanée des événements X, Y et XY

A. Muser, J. Zen, J.D. Michaud et F. Scheibling

Rev. Phys. Appl. (Paris), 4 2 (1969) 143-144

DOI: 10.1051/rphysap:0196900402014301

A. Muser

J. Zen

J.D. Michaud

F. Scheibling

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