Revue de Physique Appliquée

General physical studies on semiconductors using a scanning electron microscope

A. Gopinath, De Monts de Savasse et G.A.C. Jones

Rev. Phys. Appl. (Paris), 9 2 (1974) 347-353

DOI: 10.1051/rphysap:0197400902034700

A. Gopinath

De Monts de Savasse

G.A.C. Jones

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