Utilisation d'un seul dioptre et d'un analyseur ellipsomètre interférentiel pour l'amélioration des mesures d'indices par réflecto-ellipsométrie en incidence brewstérienne ou principale
Rev. Phys. Appl. (Paris), 9 5 (1974) 947-951
DOI: 10.1051/rphysap:0197400905094700