Revue de Physique Appliquée

Détermination de la taille et de la concentration de cristallites dans une couche amorphe par mesure de conductivité

A. Gheorghiu, S. Squelard, K. Zellama, P. Germain et J.C. Bourgoin

Rev. Phys. Appl. (Paris), 12 5 (1977) 721-723

DOI: 10.1051/rphysap:01977001205072100

A. Gheorghiu

S. Squelard

K. Zellama

P. Germain

J.C. Bourgoin

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