Revue de Physique Appliquée

Vieillissement des transistors MOS submicroniques après contrainte électrique

S. Cristoloveanu, B. Cabon-Till, K.N. Kang, P. Gentil et J. Gautier

Rev. Phys. Appl. (Paris), 19 11 (1984) 933-939

DOI: 10.1051/rphysap:019840019011093300

S. Cristoloveanu

B. Cabon-Till

K.N. Kang

P. Gentil

J. Gautier

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