Revue de Physique Appliquée

Réflectométrie appliquée aux interfaces diffuses : possibilités et limites de la technique

P. Schaaf, Ph. Dejardin et A. Schmitt

Rev. Phys. Appl. (Paris), 20 9 (1985) 631-640

DOI: 10.1051/rphysap:01985002009063100

P. Schaaf

Ph. Dejardin

A. Schmitt

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