Revue de Physique Appliquée

Caractérisation électrique des interfaces métal-semiconducteur

C. Barret, G.N. Lu et T. Neffati

Rev. Phys. Appl. (Paris), 22 11 (1987) 1485-1493

DOI: 10.1051/rphysap:0198700220110148500

C. Barret

G.N. Lu

T. Neffati

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