Neutron microscopy A. Steyerl, W. Drexel, T. Ebisawa, E. Gutsmiedl, K.-A. Steinhauser, R. Gähler, W. Mampe et P. Ageron Rev. Phys. Appl. (Paris), 23 2 (1988) 171-180 DOI: 10.1051/rphysap:01988002302017100
