Revue de Physique Appliquée

Caractérisation électronique d'interfaces profondes Al-InP

C. Barret, F. Vergand, H. Maaref, C. Sénémaud et C. Bonnelle

Rev. Phys. Appl. (Paris), 24 4 (1989) 439-446

DOI: 10.1051/rphysap:01989002404043900

C. Barret

F. Vergand

H. Maaref

C. Sénémaud

C. Bonnelle

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