Revue de Physique Appliquée

Caractérisation Raman des contraintes et des défauts d'interface dans GaAs/Si

A. Mlayah, R. Carles, G. Landa, C. Fontaine et A. Freundlich

Rev. Phys. Appl. (Paris), 25 9 (1990) 951-956

DOI: 10.1051/rphysap:01990002509095100

A. Mlayah

R. Carles

G. Landa

C. Fontaine

A. Freundlich

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