Issue
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 16, Number 5, mai 1981
Page(s) 259 - 265
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:01981001605025900
Rev. Phys. Appl. (Paris) 16, 259-265 (1981)
DOI: 10.1051/rphysap:01981001605025900

Dispositif de mesure des défauts de surfaces par émission exo-électronique photo-stimulée

M. Nouillant, B. Tournerie et F. Joubert

Laboratoire de Mécanique Physique, Université de Bordeaux I , 33405 Talence Cedex, France


Abstract
This paper deals with the arrangement of an apparatus to receive the exo-electron signal emitted by a microscopical area (150 μ x 150 μ) photo-stimulated in the U.V. range. By means of a mechanical scanning, the method allows to obtain exo-electronical cartograms corresponding, to large areas (10 mm x 40 mm). The surface states, or at a more localized scale, the state defects can be detected through their exo-electronical activity, which is the third component of the recording. Three typical examples of the possibilities of this technique are given : surface state after machining, local abrasion on a surface previously discharged by U.V. and cartograms of the evolution of a fatigue crack.


Résumé
Nous décrivons ici, un appareil destiné à recueillir le signal exo-électronique à partir d'une micro-surface (150 μm x 150 μm) photo-stimulée dans la bande U.V. Ce procédé permet grâce à un balayage mécanique, d'obtenir des cartographies exo-électroniques de surfaces importantes (10 mm x 40 mm). Les états de surfaces, ou plus localement, les défauts de surfaces, sont alors détectés par leur activité exo-électronique qui constitue la troisième dimension de l'enregistrement. Trois exemples caractéristiques des possibilités de cette méthode sont donnés : état de surface après usinage, abrasion locale sur une surface préalablement déchargée, cartographie d'une fissure de fatigue.

PACS
0780 - Electron and ion microscopes and techniques.
7320H - Surface impurity and defect levels: energy levels of adsorbed species.
7975 - Exoelectron emission.

Key words
defect electron energy states -- exoelectron emission -- surface electron states -- surface defects -- photostimulated exoelectronic emission -- mechanical scanning -- surface states -- localized scale -- machining -- local abrasion -- fatigue crack -- UV photostimulation -- exoelectronic cartograms