Issue
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 20, Number 6, juin 1985
Page(s) 437 - 443
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:01985002006043700
Rev. Phys. Appl. (Paris) 20, 437-443 (1985)
DOI: 10.1051/rphysap:01985002006043700

Dispositif d'étude des surfaces solides ou liquides par réflexion spéculaire des rayons X

L. Bosio, R. Cortès, G. Folcher et M. Oumezine

Laboratoire CNRS « Physique des Liquides et Electrochimie », associé à l'Université Pierre et Marie Curie, T.22, 4, place Jussieu, 75230 Paris Cedex 05, France


Abstract
An apparatus for X-ray reflection measurements is described. The goniometer is designed for studies on liquid and solid surfaces at grazing angles in the range 0-100 mrad. Typical examples using this set up are reported.


Résumé
On décrit un dispositif permettant de tester des modèles de profils de densité au voisinage d'une interface solide (ou liquide) -vapeur. Le principe de la méthode consiste à mesurer, en fonction de l'angle d'attaque (de l'ordre de quelques mrad), l'intensité réfléchie spéculairement par une surface plane lorsque celle-ci reçoit un faisceau de rayons X. On donne quelques exemples d'application.

PACS
0785 - X ray, gamma ray instruments and techniques.

Key words
goniometers -- X ray apparatus -- solid surfaces -- X ray reflection measurements -- liquid surfaces -- goniometer