Numéro
Rev. Phys. Appl. (Paris)
Volume 2, Numéro 1, mars 1967
Page(s) 23 - 28
DOI https://doi.org/10.1051/rphysap:019670020102300
Rev. Phys. Appl. (Paris) 2, 23-28 (1967)
DOI: 10.1051/rphysap:019670020102300

Appareillage pour l'étude expérimentale de l'ionisation par choc et de la lumière de recombinaison associée dans les semiconducteurs

René Granger

Laboratoire de Magnétisme et de Physique du Solide, C.N.R.S., 92-Bellevue


Abstract
We describe the experimental set up used to record the electrical characteristics of semiconductors up to intrinsic breakdown and to study the recombination radiation of the plasma out of equilibrium.


Résumé
Nous décrivons l'appareillage expérimental destiné au relevé de la caractéristique électrique des semiconducteurs jusqu'à l'ionisation intrinsèque et à l'étude du rayonnement de recombinaison du plasma hors d'équilibre.

PACS
7220 - Electrical conductivity phenomena in semiconductors and insulators.
7800 - Optical properties and condensed matter spectroscopy and other interactions of matter with particles and radiation.

Key words
shock wave effects -- semiconductors -- luminescence of inorganic solids -- ionisation